Eine Glim-Span-Probe ist ein Verfahren zur Überprüfung der elektrischen Eigenschaften von Materialien, insbesondere in der Halbleitertechnik. Bei dieser Methode wird ein elektrischer Strom durch ein Material geleitet, um dessen Leitfähigkeit und andere elektrische Eigenschaften zu analysieren. Die Glim-Span-Probe kann helfen, die Qualität von Halbleitermaterialien zu bewerten und deren Eignung für verschiedene Anwendungen zu bestimmen. Sie wird häufig in der Forschung und Entwicklung sowie in der Qualitätskontrolle eingesetzt.