Accelerated Life Testing (ALT) ist eine Methode, um die Lebensdauer von Produkten unter beschleunigten Bedingungen zu testen, um schneller zu validieren, wie lange ein Produkt voraussichtlich halten wird. Hier ist ein einfaches Beispiel für eine Berechnung im Rahmen von ALT: Angenommen, du testest eine elektronische Komponente, die bei normaler Nutzung eine Lebensdauer von 1000 Stunden hat. Um die Lebensdauer unter beschleunigten Bedingungen zu bestimmen, verwendest du erhöhte Temperaturen, um den Alterungsprozess zu beschleunigen. 1. **Bestimmung der Beschleunigungsfaktoren**: - Du stellst fest, dass die Lebensdauer der Komponente bei 60 °C um den Faktor 2 verkürzt wird. Das bedeutet, dass die Komponente bei 60 °C nur 500 Stunden hält. 2. **Anwendung der Arrhenius-Gleichung**: - Die Arrhenius-Gleichung wird häufig verwendet, um den Einfluss der Temperatur auf die Lebensdauer zu modellieren: \[ \text{L} = \text{L}_0 \cdot e^{-\frac{E_a}{kT}} \] wobei: - \(L\) = Lebensdauer bei der Testtemperatur - \(L_0\) = Lebensdauer bei Referenztemperatur - \(E_a\) = Aktivierungsenergie (in Joule) - \(k\) = Boltzmann-Konstante (8.617 x 10^-5 eV/K) - \(T\) = Temperatur in Kelvin 3. **Berechnung der Lebensdauer**: - Angenommen, die Aktivierungsenergie \(E_a\) beträgt 0,7 eV. Bei 60 °C (333 K) und einer Referenztemperatur von 20 °C (293 K) kannst du die Lebensdauer berechnen. 4. **Ergebnisse interpretieren**: - Wenn du die Lebensdauer bei 60 °C berechnet hast und diese mit der Lebensdauer bei 20 °C vergleichst, kannst du Rückschlüsse auf die Lebensdauer unter normalen Bedingungen ziehen. Durch diese Methode kannst du die Lebensdauer von Produkten unter verschiedenen Bedingungen vorhersagen und die Zuverlässigkeit verbessern.