Reflective Surface Interference (RSI) in der Interferometrie bezieht sich auf das Phänomen, bei dem Lichtwellen, die von verschiedenen reflektierenden Oberflächen zurückgeworfen werden, miteinander interferieren. Diese Interferenz kann konstruktiv oder destruktiv sein, abhängig von der Phasenverschiebung der Lichtwellen, die durch Unterschiede in den optischen Weglängen verursacht wird. In der Praxis bedeutet dies, dass wenn Licht auf eine reflektierende Oberfläche trifft und teilweise reflektiert wird, während ein anderer Teil weitergeht und von einer zweiten Oberfläche reflektiert wird, die beiden reflektierten Lichtstrahlen aufeinander treffen und interferieren können. Diese Interferenzmuster können genutzt werden, um präzise Messungen von Abständen, Oberflächenbeschaffenheiten und anderen physikalischen Eigenschaften durchzuführen. RSI ist ein grundlegendes Prinzip in vielen interferometrischen Techniken, wie z.B. in der Michelson-Interferometrie, wo es zur Messung von Längenänderungen und zur Bestimmung von Wellenlängen verwendet wird.