Aus den Lagen und Intensitäten von Röntgenreflexen lassen sich verschiedene Informationen über die Kristallstruktur eines Materials ableiten: 1. **Lagen der Röntgenreflexe (Positionen der Peaks):** - **Gitterparameter:** Die Positionen der Reflexe in einem Röntgendiffraktogramm sind direkt mit den Abständen der Netzebenen im Kristallgitter verknüpft. Durch die Anwendung der Bragg-Gleichung (\( n\lambda = 2d\sin\theta \)) können die Gitterparameter des Kristalls bestimmt werden. - **Kristallstruktur:** Die Symmetrie und die Art des Kristallgitters (z.B. kubisch, tetragonal, hexagonal) können durch die Analyse der Reflexlagen identifiziert werden. 2. **Intensitäten der Röntgenreflexe:** - **Atomare Positionen:** Die Intensitäten der Reflexe hängen von der Verteilung der Atome innerhalb der Einheitszelle ab. Durch die Analyse der Intensitäten kann die genaue Position der Atome im Kristallgitter bestimmt werden. - **Faktoren wie Temperatur und Störungen:** Die Intensitäten können auch durch thermische Schwingungen der Atome (Debye-Waller-Faktor) und durch Gitterfehler oder Störungen beeinflusst werden. - **Strukturfaktoren:** Die Intensitäten sind proportional zu den quadrierten Beträgen der Strukturfaktoren, die Informationen über die Art und Anzahl der Atome in der Einheitszelle liefern. Zusammengefasst liefern die Lagen der Röntgenreflexe Informationen über die geometrische Anordnung der Netzebenen und die Gitterparameter, während die Intensitäten Aufschluss über die atomare Verteilung und andere feinstrukturelle Details geben.