Der Unterschied zwischen TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) und REM (Rasterelektronenmikroskopie) liegt hauptsächlich in der Art und Weise, wie die Elektronenstrahlen mit dem Probenmaterial interagieren und wie die Bilder erzeugt werden. 1. **TEM (Transmissionselektronenmikroskopie)**: - Bei der TEM wird ein Elektronenstrahl durch eine sehr dünne Probe hindurchgeschossen. - Die Elektronen, die die Probe durchdringen, werden detektiert, um ein Bild zu erzeugen. - Diese Technik ermöglicht eine sehr hohe Auflösung (bis zu atomarer Auflösung) und wird häufig verwendet, um die interne Struktur von Materialien, wie Kristallgitter oder Zellstrukturen, zu untersuchen. 2. **REM (Rasterelektronenmikroskopie)**: - Bei der REM wird der Elektronenstrahl über die Oberfläche der Probe gerastert. - Die Wechselwirkungen der Elektronen mit der Oberfläche erzeugen Sekundärelektronen, die detektiert werden, um ein Bild zu erstellen. - Diese Methode bietet eine gute Tiefenschärfe und ermöglicht die Untersuchung der Oberflächenstruktur von Materialien, ist jedoch in der Regel nicht so hochauflösend wie die TEM. Zusammenfassend lässt sich sagen, dass TEM für die Analyse von inneren Strukturen und REM für die Untersuchung von Oberflächenstrukturen verwendet wird.