Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine hochauflösende Technik, die es ermöglicht, die Oberflächenstruktur von Materialien auf nanometrischer Ebene zu untersuchen. Bei der Untersuchung vo... [mehr]
Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine hochauflösende Technik, die es ermöglicht, die Oberflächenstruktur von Materialien auf nanometrischer Ebene zu untersuchen. Bei der Untersuchung vo... [mehr]