3 Fragen zu Rasterkraftmikroskop

Ein Rasterkraftmikroskop (AFM, Atomic Force Microscope ist ein hochauflösendes Mikroskop, das die Oberflächenstruktur von Proben auf atomarer Ebene abbild kann. Es funktioniert folgenderma&s...

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) wurde in den 1980er Jahren von Gerd Binnig und Heinrich Rohrer, zwei Wissenschaftlern des IBM-Forschungszentrums in Zürich, erfunden. Sie erhielten 1986 den Nobelpr...

Der Kontaktmodus ist eine Betriebsart des Rasterkraftmikroskops (AFM), bei der die Spitze des Mikroskops in ständigem Kontakt mit der Oberfläche der Probe bleibt. Hier sind die wesentlichen...